| 品牌西交西博 | 规格教学仪器 |
| 货号西交西博 | 类型三维扫描仪 |
| 型号高教 | 是否跨境货源否 |
西交西博高校科研教学仪器三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移技术，测量幅面大小可选，测量精度更高，速度更快，对比格雷码加相移方法，受被测工件表面阴暗影响更小，且能测量表面距离变化的工件，可扫描测量几毫米至几十米的物体。
功能特色：
外差多频相移三维光学测量技术
单幅扫描计算时间3~6秒
蓝/白光测量技术，不受环境光干扰
高质量点云数据，细节清晰
幅面大小：200*150~800*600mm
单幅点云：130~900万
单幅精度：0.007mm
点距测量
点云精确匹配、重叠面自动融合
元素拟合：点、线、面、球、圆柱、圆锥等
偏差分析：点偏差、距离偏差、角度偏差等
扫描预览
光学探针功能（选配）
坐标转换
技术参数：
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余先生
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